智能型局放儀

第一章 SHHZTCD-9308智能型局放儀(yi) 局放理論概述

在開始我們(men) 的實驗以前，我們(men) 首先應該對局部放電有個(ge) 初步的了解，為(wei) 什麽(me) 要測量局部放電？局部放電有什麽(me) 危害？怎樣準確測量局部放電？有了上述理論基礎可以幫助我們(men) 理解測量過程中的正確操作。

一、局部放電的定義(yi) 及產(chan) 生原因

在電場作用下，絕緣係統中隻有部分區域發生放電，但尚未擊穿，（即在施加電壓的導體(ti) 之間沒有擊穿）。這種現象稱之為(wei) 局部放電。局部放電可能發生在導體(ti) 邊上，也可能發生在絕緣體(ti) 的表麵上和內(nei) 部，發生在表麵的稱為(wei) 表麵局部放電。發生在內(nei) 部的稱為(wei) 內(nei) 部局部放電。而對於(yu) 被氣體(ti) 包圍的導體(ti) 附近發生的局部放電，稱之為(wei) 電暈。由此 總結一下局部放電的定義(yi) ，指部分的橋接導體(ti) 間絕緣的一種電氣放電，局部放電產(chan) 生原因主要有以下幾種：

電場不均勻。

電介質不均勻。

製造過程的氣泡或雜質。最經常發生放電的原因是絕緣體(ti) 內(nei) 部或表麵存在氣泡；其次是有些設備的運行過程中會(hui) 發生熱脹冷縮,不同材料特別是導體(ti) 與(yu) 介質的膨脹係數不同，也會(hui) 逐漸出現裂縫；再有一些是在運行過程中有機高分子的老化，分解出各種揮發物，在高場強的作用下，電荷不斷地由導體(ti) 進入介質中， 在注入點上就會(hui) 使介質氣化。

二 、SHHZTCD-9308智能型局放儀(yi) 局部放電的模擬電路及放電過程簡介

介質內(nei) 部含有氣泡，在交流電壓下產(chan) 生的內(nei) 部放電特性可由圖1—1的模擬電路(a b c等值電路)予以表示；其中Cc是模擬介質中產(chan) 生放電間隙(如氣泡)的電容；Cb代表與(yu) Cc串聯部分介質的合成電容；Ca表示其餘(yu) 部分介質的電容。

I——介質有缺陷(氣泡)的部份(虛線表示)

II——介質無缺陷部份

圖1—1  表示具有內(nei) 部放電的模擬電路

圖1—1中以並聯有—對火花間隙的電容Cc來模擬產(chan) 生局部放電的內(nei) 部氣泡。圖1—2表示了在交流電壓下局部放電的發生過程。

U(t)一一外施交流電壓

Uc(t)一一氣泡不擊穿時在氣泡上的電壓

Uc’(t)一一有局部放電時氣泡上的實際電壓

Vc一一氣泡的擊穿電壓

Y r一一氣泡的殘餘(yu) 電壓   

Us—局部放電起始電壓(瞬時值)

Ur一一與(yu) 氣泡殘餘(yu) 電壓v r對應的外施電壓

Ir一一氣泡中的放電電流

電極間總電容Cx=Ca＋(Cb×Cc)/(Cb＋Cc)=Ca電極間施加交流電壓 u(t)時，氣泡電容Cc上對應的電壓為(wei) Uc(t)。如圖2—1所示，此時的Uc(t)所代表的是氣泡理想狀態下的電壓（既氣泡不發生擊穿）。

Uc(t)=U(t)×Cb/Cc＋Cb

外施電壓U(t)上升時，氣泡上電壓Uc(t)也上升，當U(t)上升到Us時，氣泡上電壓Uc達到氣泡擊穿電壓,氣泡擊穿，產(chan) 生大量的正、負離子，在電場作用下各自遷移到氣泡上下壁，形成空間電菏，建立反電場，削弱了氣泡內(nei) 的總電場強度，使放電熄滅，氣泡又恢複絕緣性能。這樣的一次放電持續時間是極短暫的，對一般的空氣氣泡來說，大約隻有幾個(ge) 毫微秒(10的負8次方到10的負9次方秒)。所以電壓Uc(t)幾乎瞬間地從(cong) Vc降到Vr，Vr是殘餘(yu) 電壓；而氣泡上電壓Uc‘(t)將隨U(t)的增大而繼續由Vr升高到Vc時，氣泡再—次擊穿，發生又—次局部放電，但此時相應的外施電壓比Us小，為(wei) (Us-Ur)，這是因為(wei) 氣泡上有殘餘(yu) 電壓Vr的內(nei) 電場作用的結果。Vr是與(yu) 氣泡殘餘(yu) 電壓Yr相應的外施電壓，如此反複上述過程，即外施電壓每增加(Us-Ur)，就產(chan) 生一次局部放電．直到前—次放電熄滅後，Uc’(t)上升到峰值時共增量不足以達Vc(相當於(yu) 外施電壓的增量Δ比(Us-Ur)小)為(wei) 止。

此後，隨著外施電壓U(t)經過峰值Um後減小，外施電壓在氣泡中建立反方向電場，由於(yu) 氣泡中殘存的內(nei) 電場電壓方向與(yu) 外電場方向相反，故外施電壓須經(Us+Ur))的電壓變化，才能使氣泡上的電壓達到擊穿電壓Vc，(假定正、負方向擊穿電壓Vc相等)，產(chan) 生一次局部放電。放電很快熄滅，氣泡中電壓瞬時降到殘餘(yu) 電壓Vr(也假定正、負方向相同)。外施電壓繼續下降，當再下降(Us-Ur)時，氣泡電壓就又達到Vc從(cong) 而又產(chan) 生一次局部放電。如此重複上述過程，直到外施電壓升到反向蜂值一Um的增量Δ不足以達到(Us-Ur)為(wei) 止。外施電壓經過一Um峰值後，氣泡上的外電場方向又變為(wei) 正方向，與(yu) 氣泡殘餘(yu) 電壓方向相反，故外施電壓又須上升(Us+Ur)產(chan) 生第—次放電，熄滅後，每經過Us—Ur的電壓上升就產(chan) 生一次放電，重複前麵所介紹的過程。如圖1—2所示。

由以上局部放電過程分析，同時根據局部放電的特點（同種試品，同樣的環境下，電壓越高局部放電量越大）可以知道：一般情況下，同一試品在一、三象限的局部放電量大於(yu) 二、四象限的局部放電量。那是因為(wei) 它們(men) 是電壓的上升沿。（第三象限是電壓負的上升沿）。這就是我們(men) 測量中為(wei) 什麽(me) 把時間窗刻意擺在一、三象限的原因。

三、局部放電的測量原理：

局放儀(yi) 運用的原理是脈衝(chong) 電流法原理，即產(chan) 生一次局部放電時，試品Cx兩(liang) 端產(chan) 生一個(ge) 瞬時電壓變化Δu，此時若經過電Ck耦合到一檢測阻抗Zd上，回路就會(hui) 產(chan) 生一脈衝(chong) 電流I，將脈衝(chong) 電流經檢測阻抗產(chan) 生的脈衝(chong) 電壓信息，予以檢測、放大和顯示等處理，就可以測定局部放電的一些基本參量（主要是放電量q）。在這裏需要指出的是，試品內(nei) 部實際的局部放電量是無法測量的，因為(wei) 試品內(nei) 部的局部放電脈衝(chong) 的傳(chuan) 輸路徑和方向是極其複雜的，因此我們(men) 隻有通過對比法來檢測試品的視在放電電荷，即在測試之前先在試品兩(liang) 端注入一定的電量，調節放大倍數來建立標尺，然後將在實際電壓下收到的試品內(nei) 部的局部放電脈衝(chong) 和標尺進行對比，以此來得到試品的視在放電電荷。 相當於(yu) 外施電壓的增量Δ比(Us-Ur)小)為(wei) 止。

四、局部放電的表征參數

局部放電是比較複雜的物理現象，必須通過多種表征參數才能全麵的描繪其狀態，同時局部放電對絕緣破壞的機理也是很複雜的，也需要通過不同的參數來評定它對絕緣的損害，目前我們(men) 隻關(guan) 心兩(liang) 個(ge) 基本參數。

視在放電電荷——在絕緣體(ti) 中發生局部放電時，絕緣體(ti) 上施加電壓的兩(liang) 端出現的脈動電荷稱之為(wei) 視在放電電荷，單位用皮庫（pc）表示，通常以穩定出現的最大視在放電電荷作為(wei) 該試品的放電量。

放電重複率——在測量時間內(nei) 每秒中出現的放電次數的平均值稱為(wei) 放電重複率，單位為(wei) 次/秒，放電重複率越高，對絕緣的損害越大。

第二章  局放測試的試驗係統接線。

在了解了局部放電的基本理論之後，在本章我們(men) 的重點轉向實際操作，我們(men) 先介紹局部放電測試中常用的三種接法，隨後我們(men) 再介紹整個(ge) 係統的接線電路，最後我們(men) 再分別介紹幾種典型的試品的試驗線路。

一、局放電測試電路的三種基本接法及優(you) 缺點。

（1）   標準試驗電路，又稱並聯法。適合於(yu) 必須接地的試品。其缺點是高壓引線對地雜散電容並聯在 CX上，會(hui) 降低測試靈敏度。

（2）接法的串聯法，其要求試品低壓端對地浮置。其優(you) 點是米兰手机下载入口電容、高壓線對地雜散電容與(yu) 耦合電容CK並聯，有利於(yu) 提高試驗靈敏度。缺點是試樣損壞時會(hui) 損壞輸入單元。

（3）平衡法試驗電路：要求兩(liang) 個(ge) 試品相接近，至少電容量為(wei) 同一數量級其優(you) 點是外幹擾強烈的情況下，可取得較好抑製幹擾的效果，並可消除米兰手机下载雜散電容的影響，而且可做大電容試驗。缺點是須要兩(liang) 個(ge) 相似的試品，且當產(chan) 生放電時，需設法判別是哪個(ge) 試品放電。

值得提出的是：由於(yu) 現場試驗條件的限製（找到兩(liang) 個(ge) 相似的試品且要保證一個(ge) 試品無放電不太容易），所以在現場平衡法比較難實現，另外，由於(yu) 采用串聯法時，如果試品擊穿，將會(hui) 對設備造成比較大的損害，所以出於(yu) 對設備保護的想法，在現場試驗時一般采用並聯法。

二、采用並聯法的整個(ge) 係統的接線原理圖。

該係統采用脈衝(chong) 電流法檢測高壓試品的局部放電量，由控製台控製調壓器和米兰手机下载在試品的高壓端產(chan) 生測試局放所需的預加電壓和測試電壓，通過無局放藕合電容器和檢測阻抗將局部放電信號取出並送至局部放電檢測儀(yi) 顯示並判斷和測量。係統中的高壓電阻為(wei) 了防止在測試過程中試品擊穿而損壞其他設備，兩(liang) 個(ge) 電源濾波器是將電源的幹擾和整個(ge) 測試係統分開，降低整個(ge) 測試係統的背景幹擾。

根據上述原理圖可以看出，局部放電測試的靈敏度和準確度和整個(ge) 係統密切相關(guan) ，要想順利和準確的進行局部放電測試，就必須將整個(ge) 係統考濾周到，包括係統的參數選取和連接方式。另外，在現場試驗時，由於(yu) 是驗證性試驗，高壓限流電阻可以省掉。

三、幾種典型試品的接線原理圖。

（1）電流互感器的局放測試接線原理圖

（2）電壓互感器的局放測試接線原理圖

A．工頻加壓方式接線原理圖

為(wei) 了防止電壓互感器在工頻電壓下產(chan) 生大的勵磁電流而損壞，高壓電壓互感器一般采取自激勵的加壓方式。在電壓互感器的低壓側(ce) 加一倍頻電源，在電壓互感器的高壓端感應出高壓來進行局部放電實驗。這就是通常所說的三倍頻實驗。其接線原理圖如下：

(3)高壓電容器.絕緣子的局放測試接線原理圖

(4) 發電機的局放測試接線原理圖

（5）米兰手机下载的局部放電測試接線原理圖

我們(men) 僅(jin) 僅(jin) 是在原理性的總結了幾種典型試品的接線原理圖，至於(yu) 各種試品的加壓方式和加壓值的多少，我們(men) 在做試驗的時侯要嚴(yan) 格遵守每種試品的出廠檢驗標準或交接檢驗標準。

第三章  概述

智能局部放電檢測儀(yi) 是我公司新推向市場的新一代數字智能儀(yi) 器，該儀(yi) 器在原有產(chan) 品JF-2010、JF-2020局放儀(yi) 的基礎上采用嵌入式ARM係統作為(wei) 中央處理單元，控製12位分辨率的高速模數轉換芯片進行數據采集，將采集到的數據存放在雙端口RAM中。實現從(cong) 模擬到數字的跨越。使用26萬(wan) 色高分辨率TFT-LCD數字液晶顯示模組實時顯示放電脈衝(chong) 波形，配備VGA接口，可外接顯示器。與(yu) 傳(chuan) 統的模擬式示波管顯示局部放電檢測儀(yi) 相比有以下特點：

1.彩色顯示器，雙色顯示波形，更清晰直觀；

2.可鎖定波形，更方便仔細查看放電波形細節；

3.自動測量並顯示試驗電源時基頻率，無需手動切換；

4.配備VGA接口，可外接大尺寸顯示器；

5.與(yu) 示波管相比壽命更長。

6.具有波形鎖定、打印試驗報告功能

本儀(yi) 器檢測靈敏度高，試樣電容覆蓋範圍大，適用試品範圍廣，輸入單元（檢測阻抗）配備齊全，頻帶組合多（九種）。儀(yi) 器經適當定標後能直讀放電脈衝(chong) 的放電量。

本儀(yi) 器是電力部門、製造廠家和科研單位等廣泛使用的局部放電測試儀(yi) 器。

第四章  主要技術指標：

1．可測試品的電容範圍： 6PF—250uF。

2．檢測靈敏度（見表一）：

表一

3、放大器頻帶：

（1）低端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選。

（2）頂端：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選。

4、放大器增益調節：

粗調六檔，檔間增益20±1dB；細調範圍≥20dB。每檔之間數據為(wei) 10倍關(guan) 係：如第三檔檢測數據為(wei) 98，則第二檔顯示數據為(wei) 9.8，如在第三檔檢測數據超過120，則應調至第二檔來檢測數據，所得數據應乘以10才為(wei) 實際測量值。

5、時間窗：

（1）窗寬：可調範圍15°-175°；

（2）窗位置：每一窗可旋轉0°- 180°；

（3）兩(liang) 個(ge) 時間窗可分別開或同時開。

6、放電量表：

0-10*<±3％（以滿度計）。

7、橢圓時基：

（1）頻率：50HZ、或外部電源同步（任意頻率）

（2）橢圓旋轉：以30°為(wei) 一檔，可作360°旋轉。

（3）顯示方式：橢圓—直線。

8、試驗電壓表：

精度：優(you) 於(yu) ±3％（以滿度計）。

9、體(ti) 積： 320×480×190（寬×深×高）mm³。

10、重量：約15Kg。

三、係統工作原理：

本機的局部放電測試原理是高頻脈衝(chong) 電流測量法（ERA法）。

試品Ca在試驗電壓下產(chan) 生局部放電時，放電脈衝(chong) 信號經藕合電容Ca送入輸入單元，由輸入單元拾取到脈衝(chong) 信號，經低噪聲前置放大器放大，濾波放大器選擇所需頻帶及主放大器放大（達到所需幅值與(yu) 產(chan) 生零標誌脈衝(chong) ）後，在示波屏的橢圓掃描基線上產(chan) 生可見的放電脈衝(chong) ，同時也送至脈衝(chong) 峰值表顯示其峰值。

時間窗單元控製試驗電壓每一周期內(nei) 脈衝(chong) 峰值的工作時間，並在這段時間內(nei) 將示波屏的相應顯示區加亮，用它可以排除固定相位的幹擾。

試驗電壓表經電容分壓器產(chan) 生試驗電壓過零標誌訊號，在示波屏上顯示零標脈衝(chong) ，橢圓時基上兩(liang) 個(ge) 零標脈衝(chong) ，通過時間窗的寬窄調節可確定試驗電壓的相位，試驗電壓大小由數字電壓表指示。

整個(ge) 係統的工作原理可參看方框圖（圖一）。

四、結構說明

本儀(yi) 器為(wei) 標準機箱結構，儀(yi) 器分前麵板及後麵板兩(liang) 部分，各調節元件的位置及位置和功能見下圖說明。

1、4：長按改變門窗的位置

2、3：長按改變門窗的寬度

5：時鍾設置按鈕

6：按9號鍵鎖定後再按此鍵，即可打印試驗報告

7：分壓比設置按鈕

8：門開關(guan) ，重複按可選擇左右門

9：波形鎖定按鍵

10：橢圓旋轉按鈕

11：顯示方式按鈕

12：取消按鈕

A、B、C通道選擇旋鈕與(yu) 後麵板A、B、C測量通道相對應

備注： 如需數據導出，步驟如下：

（1）在電腦上安裝好RS232通用串口線驅動。（驅動盤裏有安裝介紹）及局放試驗報告編輯器軟件。

（2）將串口線和局放儀(yi) 後麵的數據接口連接好。   

（3）將需要保存的波形鎖定然後點擊 局放試驗報告編輯器

（4）點擊Start鍵生成鎖定後的數據，然後點擊測試報告如下圖所示：

（5）點擊測試報告後則會(hui) 出現局放試驗報告編輯器可以根據需要填寫(xie) 上麵的內(nei) 容。

（6）填寫(xie) 好表格後點擊生成報告數據會(hui) 以Word文檔的形式出現，再將數據保存至電腦，如下圖所示：

第五章  操作說明

1、試驗準備：將機器後麵板的三個(ge) 開關(guan) 都置於(yu) “關(guan) "的狀態

（1）檢查試驗場地的接地情況，將本儀(yi) 器後部的接地螺栓用粗銅線（最好用編製銅帶）與(yu) 試驗場地的接地妥善相接，輸入單元的接地短路片也要妥善接地。

（2）根椐試品電容Ca，藕合電容Ck的大小，選取合適序號的輸入單元（表一），表一中調諧電容量是指從(cong) 輸入單元初級繞組兩(liang) 端看到的電容（按Cx和Ck的串聯值粗略估算）。

輸入單元應盡量靠近被測試品，輸入單元插座經8米長電纜與(yu) 後麵板上輸入插座相接。

（3）試品接入輸入單元的方法主要有以下幾種：

圖中：Ca——試品    Ck——藕合電容    Z——阻塞阻抗  R3、C3、R4、C4——橋式接法中平衡調節阻抗。

（4）在高壓端接上電壓表電阻或電容分壓器，其輸出經測量電纜接到後麵板試驗電壓輸入插座30。

（5）在未加試驗電壓的情況下，將JF-2006校正脈衝(chong) 發生器的輸出接試品兩(liang) 端。

2、使用步驟

（1）開機準備：將時基顯示方式置於(yu) “橢圓"。

（2）放電量的校正：按圖接好線後，在未加試驗電壓之前用LJF-2006校正脈衝(chong) 發生器予以校正。

注意：方波測量盒應盡量靠近試品的高壓端。紅端子引線接高壓端。

然後調節放大器增益調節，使該注入脈衝(chong) 高度適當（示波屏上高度2cm以下），使數字表讀數值與(yu) 注入的已知電量相符。調定後放大器細調旋鈕的位置不能再改變，需保持與(yu) 校正時相同。

校正完成後必須去掉校正方波發生器與(yu) 試驗回路的連接。

（3）測試操作：

接通高壓試驗回路電源，零標開關(guan) 至“通"位置，緩緩升高試驗電壓，橢圓上出現兩(liang) 個(ge) 零標脈衝(chong) 。

旋轉“橢圓旋轉"開關(guan) ，使橢圓旋轉到預期的放電處於(yu) 最有利於(yu) 觀測的位置，連續升高電壓，注意第一次出現的持續放電，當放電量超過規定的低值時的電壓即為(wei) 局部放電起始電壓。

在規定的試驗電壓下，觀測到放電脈衝(chong) 信號後，調節放大器粗調開關(guan) （注意：細調旋鈕的位置不能再變動），使顯示屏上放電脈衝(chong) 高度在0.2~2cm之間（數字電壓表上的PC讀數有效數字不能超過120.0），超過120至需要降低增益檔測量。

注意：本儀(yi) 器使用數字表顯示放電量，其滿度值定為(wei) 100超過該值即為(wei) 過載，不能保證精度，超過該值需撥動增益粗調開關(guan) 轉換到低增益檔。

試驗過程中常會(hui) 發現有各種幹擾，對於(yu) 固定相位的幹擾，可用時間窗裝置來避開。合上開關(guan) 用一個(ge) 或兩(liang) 個(ge) 時間窗，並調節門寬位置來改變橢圓上加亮區域（黃色）的寬度和位置，使其避開幹擾脈衝(chong) 之處，用時間窗裝置可以分別測量產(chan) 生於(yu) 兩(liang) 個(ge) 半波內(nei) 的放電量。

三倍頻感應法的試驗步驟：將高頻電源接入儀(yi) 器後麵板的高頻電源插座，並將電源開關(guan) 置於(yu) “開"的位子，其他試驗方式同前試驗。

打印報告：完成試驗後，若需要記錄試驗數據，隻需要按鎖定按鍵，然後按打印按鈕就可以直接打印試驗數據報告。

第六章  抗幹擾措施和局部放電圖譜簡介

對於(yu) 局部放電實驗我們(men) 最怕的就是幹擾，下麵簡單介紹一下實驗中可能遇到的幹擾以及抗幹擾的方法：

測量的幹擾分類

幹擾有來自電網的和來自空間的。按表現形式分又分為(wei) 固定的和移動的。主要的幹擾源有以下一些：

①懸浮電位物體(ti) 放電，通過對地雜散電容耦合

②外部頂端電暈

③可控矽元件在鄰近運行

④繼電器，接觸器，輝光管等物品

⑤接觸不良

⑥無線電幹擾

⑦熒光燈幹擾

⑧電動機幹擾

⑨中高頻工業(ye) 設備

（二）抗幹擾方法

采用帶調壓器，隔離米兰手机下载和濾波器的控製電源

設置屏蔽室，可隻屏蔽試驗回路部分

可靠的單點接地，將試驗回路係統設計成單點接地結構，接地電阻要小，接地點要與(yu) 一般試驗室的地網及電力網中線分開。

采用高壓濾波器

用平衡法或橋式試驗電路

利用時間窗，使固定相位幹擾處於(yu) 亮窗之外

采用較窄頻帶，或用頻帶躲開幹擾大的頻率範圍

在高壓端加裝高壓屏蔽罩或半導體(ti) 橡膠帽以防電暈幹擾

試驗電路遠離周圍物體(ti) ，尤其是懸浮的金屬固體(ti) ！

（三）初做實驗者對波形辨認還是有一定困難的，下麵就簡單介紹一     放電類型和幹擾的初步辯認：

1． 典型的內(nei) 部氣泡放電的波形特點：(圖 5—01)

A．放電主要顯示在試驗電壓由零升到峰值的兩(liang) 個(ge) 橢圓象限內(nei) 。

B．在起始電壓Ui時，放電通常發生在峰值附近，試驗電壓超過Ui時，放電向零相位延伸。

C．兩(liang) 個(ge) 相反半周上放電次數和幅值大致相同（最大相差至3：1）。

D．放電波形可辯。

E．q與(yu) 試驗電壓關(guan) 係不大，但放電重複率n隨試驗電壓上升而加大。

F．局部放電起始電壓Ui和熄滅電壓Ue基本相等。

G．放電量q與(yu) 時間關(guan) 係不大。

H．如果放電量隨試驗電壓上升而增大，並且放電波形變得模糊不可分辨，則往往是介質內(nei) 含有多種大小氣泡，或是介質表麵放電。如果除了上述情況，而且放電幅值隨加壓時間而迅速增長（可達100倍或更多），則往往是絕緣液體(ti) 中的氣泡放電，典型例子是油浸紙電容器的放電。

2． 金屬與(yu) 介質間氣泡的放電波形特點：               

正半周有許多幅值小的放電，負半周有很少幅值大的放電。幅值相差可達10﹕1，其他同上。

典型例子：絕緣與(yu) 導體(ti) 粘附不良的聚乙烯電纜的放電。q與(yu) 試驗電壓關(guan) 係不大。（圖 5—02）

如果隨試驗電壓升高，放電幅值也增大，而且放電波形變得模糊，則往往是含有不同大小多個(ge) 氣泡，或是外露的金屬與(yu) 介質表麵之間出現的表麵放電。（圖 5—03）

（四）下麵介紹一些主要視為(wei) 幹擾或非正常放電的情況：

（1）懸浮電位物體(ti) 放電波形特點：

在電壓峰值前的正負半周兩(liang) 個(ge) 象限裏出現幅值。脈衝(chong) 數和位置均相同，成對出現。放電可移動，但它們(men) 間的相互間隔不變，電壓升高時，根數增加，間隔縮小，但幅值不變。有時電壓升到一定值時會(hui) 消失，但降至此值又重新出現。

原因：金屬間的間隙產(chan) 生的放電，間隙可能是地麵上兩(liang) 個(ge) 獨立的金屬體(ti) 間（通過雜散電容耦合）也可能在樣品內(nei) ，例如屏蔽鬆散。

（2）外部頂端電暈放電波形特點：

起始放電僅(jin) 出現在試驗電壓的一個(ge) 半周上，並對稱地分布在峰值兩(liang) 側(ce) 。試驗電壓升高時，放電脈衝(chong) 數急劇增加，但幅值不變，並向兩(liang) 側(ce) 伸展。

原因：空氣中高壓頂端或邊緣放電。如果放電出現在負半周，表示頂端處於(yu) 高壓，如果放電出現在正半周則頂端處於(yu) 地電位。

（3）液體(ti) 介質中的頂端電暈放電波形特點：

放電出現在兩(liang) 個(ge) 半周上，對稱地分布在峰值兩(liang) 側(ce) 。每一組放電均為(wei) 等間隔，但一組幅值較大的放電先出現，隨試驗電壓升高而幅值增大，不一定等幅值；一組幅值小的放電幅值相等，並且不隨電壓變化。

原因：絕緣液體(ti) 中頂端或邊緣放電。如一組大的放電出現在正半周，則頂端處於(yu) 高壓；如出現在負半周，則頂端地電位。

（4）接觸不良的幹擾圖形。

波形特點：對稱地分布在實驗電壓零點兩(liang) 側(ce) ，幅值大致不變，但在實驗電壓峰值附近下降為(wei) 零。波形粗糙不清晰，低電壓下即出現。電壓升高時，幅值緩慢增加，有時在電壓達到一定值後會(hui) *消失。

原因：實驗回路中金屬與(yu) 金屬不良接觸的連接點；塑料電纜屏蔽層半導體(ti) 粒子的不良接觸；電容器鋁箔的插接片等（可將電容器充電然後短路來消除）。               

（5）可控矽元件的幹擾圖形。

波形特點：位置固定，每隻元件產(chan) 生一個(ge) 獨立訊號。電路接通，電磁耦合效應增強時訊號幅值增加，試驗調壓時，該脈衝(chong) 訊號會(hui) 發生高頻波形展寬，從(cong) 而占位增加。

原因：鄰近有可控矽元件在運行。

（6）繼電器、接觸器、輝光管等動作的幹擾。

波形特點：分布不規則或間斷出現，同試驗電壓無關(guan) 。

原因：熱繼電器、接觸器和各種火花試驗器及有火花放電的記錄器動作時產(chan) 生。

（7）熒光燈的幹擾圖形。

波形特點：欄柵狀，幅值大致相同的脈衝(chong) ，伴有正負半波對稱出現的兩(liang) 簇脈衝(chong) 組。

原因：熒光燈照明                                                                                     

（8）無線電幹擾的幹擾圖形。

波形特點：幅值有調製的高頻正弦波，同試驗電壓無關(guan) 。

原因：無線電話、廣播話筒、載波通訊等。

（9）電動機幹擾的幹擾圖形（圖5—12）

波形特點：放電波形沿橢圓基線均勻分布，每個(ge) 單個(ge) 訊號呈“山"字形。

原因：帶換向器的電動機，如電扇、電吹風運轉時的幹擾。

（10）中高頻工業(ye) 設備的幹擾圖形。

波形特點：連續發生，僅(jin) 出現在電源波形的半周內(nei) 。

原因：感應加熱裝置和頻率接近檢測頻率的超聲波發生器等。

（11）鐵芯磁飽和諧波的幹擾圖形（圖5—14）

波形特點：較低頻率的諧波振蕩，出現在兩(liang) 個(ge) 半周上，幅值隨試驗電壓升高而增大，不加電壓時消失，有重現性。

原因：試驗係統各種鐵芯設備（試驗米兰手机下载、濾波電抗器、隔離米兰手机下载等）磁飽和產(chan) 生的諧振。                                 

（12）電極在電場方向機械移動的幹擾圖形。

波形特點：僅(jin) 在試驗電壓的半周（正或負）上出現的與(yu) 峰值對稱的兩(liang) 個(ge) 放電響應，幅值相等，而脈衝(chong) 方向相反，起始電壓時兩(liang) 個(ge) 脈衝(chong) 在峰值處靠得很近，電壓升高時逐漸分開，並可能產(chan) 生新的脈衝(chong) 訊號對。

原因：電極的部分（尤其是金屬箔電極）在電場作用下運動。                          

（14）漏電痕跡和樹枝放電

波形特點：放電訊號波形與(yu) 一般典型圖象均不符合，波形不規則不確定。

原因：玷汙了的絕緣上漏電或絕緣局部過熱而致的碳化痕跡或樹枝通道。

在放電測試中必須保證測試回路中其它元件（試驗米兰手机下载、阻塞線圈、耦合電容器、電壓表電阻等）均不放電，常用的辦法是用與(yu) 試品電容數量級相同的無放電電容或絕緣結構取代試品試驗，看看有無放電。

了解了各種放電類型的波形特征，來源以及識別幹擾後就可按具體(ti) 情況采取措施排除幹擾和正確地進行放電測量了。

第七章     局部放電測試當中應該注意的問題

實驗前，試品的絕緣表麵（尤其是高壓端）應作清潔化處理

2、   各連接點應接觸良好，尤其是高壓端不要留下尖銳的接點，高壓導線應盡可能粗以防電暈，可用蛇皮管。

輸入單元要盡量靠近試品，而且接地要可靠，接地線最好用編織銅帶。主機也須接地，以保證安全。

試驗回路盡可能緊湊。即高壓連線盡可能短，試驗回路所圍麵積盡可能小。

在進行110KV及以上等級的局放試驗時，試品周圍的懸浮金屬物體(ti) 應妥善接地。

考慮到油浸式試品局部放電存在滯後效應，因此在局放試驗前幾小時，不要對試品施加超過局部放電試驗電壓的高電壓。

第八章  附件

1、專(zhuan) 用測量電纜線6米         2根

2、電源線                     1根

3、1.0A保險絲(si)                  4根

4、使用說明書(shu)                  1份